Как найти кристалл для томографа?

Сотрудники ФИАНа предложили новый метод диагностики кристаллов, используемых в позитронно-эмиссионной томографии.

«Несмотря на разницу в первичных процессах (в которых участвует первичная частица), вторичные процессы в обоих случаях характеризуются ионизацией и возбуждением среды вторичными электронами и поглощением в объёме образца рентгеновских квантов… Следовательно, нет оснований ожидать разницы в спектрах люминесценции…» — указывают в своей статье в «Журнале технической физики» авторы исследования.

В ходе экспериментов физики подобрали оптимальный для ПЭТ кристалл-сцинтиллятор. Минимальное время высвечивания (время, в течение которого энергия быстрой заряженной частицы преобразуется в световое излучение) для этого кристалла 20—25 нс, что позволит обеспечить высокое пространственное разрешение ПЭТ-томографов, а значит, повысить качество и точность диагностирования. До сих пор в ПЭТ использовали кристаллы с большим временем высвечивания (около 300 нс), что неудобно.

«Важное значение разработанной нами методики импульсной катодолюминесценции состоит в возможности её практического применения. Она позволит подбирать сцинтилляторы для ПЭТ-томографов без использования радиоактивных источников. ПЭТ-томографы нового поколения дадут возможность диагностировать онкологические заболевания на самой ранней стадии, даже до их клинических проявлений», — говорит заместитель руководителя по научной работе Отделения оптики ФИАН, доктор физико-математических наук Сергей Юрьевич Савинов.

По информации ФИАН-Информ.

 

Читайте в любое время

Портал журнала «Наука и жизнь» использует файлы cookie и рекомендательные технологии. Продолжая пользоваться порталом, вы соглашаетесь с хранением и использованием порталом и партнёрскими сайтами файлов cookie и рекомендательных технологий на вашем устройстве. Подробнее

Товар добавлен в корзину

Оформить заказ

или продолжить покупки